Kinijos ūkas mobiliųjų telefonų ir skaitmeninių gaminių ličio baterijų paketo bandymo sistemos gamintojas ir tiekėjas |Ūkas

„Nebula“ mobiliojo telefono ir skaitmeninio produkto ličio baterijų paketo bandymo sistemos siūlomas vaizdas

Nebula mobiliųjų telefonų ir skaitmeninių gaminių ličio baterijų testavimo sistema

Ši sistema yra tinkama įvertinti pagrindinių sukomplektuotų arba pusiau sukomplektuotų gaminių, naudojamų mobiliųjų telefonų ir skaitmeninių gaminių ličio baterijų gamybos linijoje, savybėms, visų pirma pagrindinėms apsaugos IC testo savybėms ir paketo integruotos testavimo sistemos kūrimui (palaikanti I2C, SMBus, HDQ ryšio protokolai).

SUSISIEKITE DABAR

FUNKCIJOS

apibūdinimas

Tai visapusiška „Pack“ testavimo sistema, taikoma galutinių produktų / pusgaminių pagrindinių ir apsaugos charakteristikų bandymams mobiliųjų telefonų ir skaitmeninių produktų ličio jonų baterijų gamybos linijose ir apsaugos IC (palaiko I2C, SMBus, HDQ ryšio protokolus). ).

Bandymo sistemą daugiausia sudaro pagrindinis veikimo testas ir apsaugos veikimo testas.Pagrindinis veikimo bandymas apima atviros grandinės įtampos bandymą, apkrovos įtampos bandymą, dinaminės apkrovos bandymą, akumuliatoriaus vidinės varžos bandymą, šiluminės varžos bandymą, ID atsparumo bandymą, įprastos įkrovimo įtampos bandymą, normalios iškrovos įtampos bandymą, talpos bandymą, nuotėkio srovės bandymą;Apsaugos veikimo bandymas apima apsaugos nuo įkrovimo viršsrovių bandymą: apsaugos nuo įkrovimo viršsrovės funkciją, apsaugos nuo vėlinimo ir atkūrimo funkcijos testus;iškrovos apsaugos nuo viršsrovių bandymas: iškrovos apsaugos nuo viršsrovių funkcijos, apsaugos nuo vėlinimo ir atkūrimo funkcijos bandymai;trumpojo jungimo apsaugos bandymas.

Testavimo sistema turi šias funkcijas: Nepriklausomas vieno kanalo modulinis dizainas ir duomenų ataskaitų funkcija, kuri ne tik gali padidinti kiekvienos PACK testavimo greitį, bet ir yra lengvai prižiūrima;bandant PACK apsaugos būsenas, testeris turi būti perjungtas į atitinkamą sistemos būseną.Užuot naudojęs relę, testeris naudoja daug energijos suvartojantį bekontaktį MOS jungiklį, kad padidintų testerio patikimumą.Be to, testo duomenis galima įkelti į serverio pusę, kurią lengva valdyti, saugumas yra aukštas ir nėra lengva prarasti.Testavimo sistema ne tik pateikia „Vietinės duomenų bazės“ saugyklos testavimo sistemos testavimo rezultatus, bet ir „serverio nuotolinio saugojimo“ režimą.Visus duomenų bazėje esančius bandymų rezultatus galima eksportuoti, o tai lengva tvarkyti.Bandymų rezultatų „duomenų statistinė funkcija“ gali būti naudojama analizuojant „kiekvieno bandymo projekto nevykdymo rodiklį“ ir kiekvieno PCM atvejo „bandymą“.

funkcijos

Modulinis dizainas: nepriklausomas vieno kanalo modulinis dizainas, kad būtų lengva prižiūrėti	Didelis tikslumas: didžiausias išvesties įtampos tikslumas ± (0,01RD+0,01%FS)
Greitasis testas: naudojant didžiausią 1,5 s bandymo greitį, gamybos ciklai žymiai pagreitėja	Didelis patikimumas: daug energijos suvartojantis bekontaktis MOS jungiklis, kad padidintų testerio patikimumą
Kompaktiškas dydis: pakankamai mažas ir patogus nešiotis	——

SPECIFIKACIJOS

Modelis	BAT-NEPDQ-01B-V016
Parametras	diapazonas	Tikslumas
Įkrovimo įtampos išėjimas	0,1 ~ 5 V	± (0,01 % RD + 0,01 % FS)
Įkrovimo įtampos išėjimas	5 ~ 10 V	± (0,01 % RD+0,02 % FS )
Įkrovimo įtampos matavimas	0,1 ~ 5 V	± (0,01 % 6R.D. +0,01 % FS)
Įkrovimo įtampos matavimas	5 ~ 10 V	± (0,01 % RD + 0,01 % FS)
Įkrovimo srovės išėjimas	0,1~2A	± (0,01 % RD + 0,5 mA)
Įkrovimo srovės išėjimas	2-20A	± (0,01 % RD + 0,02 % FS)
Įkrovimo srovės matavimas	0,1~2A	± (0,01 % RD + 0,5 mA)
Įkrovimo srovės matavimas	2-20A	± (0,02 % RD + 0,5 mA)
PACK įtampos matavimas	0,1 ~ 10 V	± (0,02 % RD +0,5 mV)
Iškrovos įtampos išėjimas	0,1 ~ 5 V	± (0,01 % RD + 0,01 % FS)
Iškrovos įtampos išėjimas	0,1 ~ 10 V	± (0,01 % RD+0,02 % FS )
Iškrovos įtampos matavimas	0,1 ~ 5 V	± (0,01 % RD + 0,01 % FS)
Iškrovos įtampos matavimas	0,1-10V	± (0,01 % RD + 0,01 % FS)
Iškrovos srovės išėjimas	0,1~2A	± (0,01 % RD + 0,5 mA)
Iškrovos srovės išėjimas	2-30A	± (0,02 % RD + 0,02 % FS)
Iškrovos srovės matavimas	0,1-2A	± (0,01 % RD + 0,5 mA)
Iškrovos srovės matavimas	2-30A	± (0,02 % RD + 0,5 mA)
Nuotėkio srovės matavimas	0,1-20uA	± (0,01 % RD+0,1 uA)
Nuotėkio srovės matavimas	20-1000uA	± (0,01 % RD + 0,05 % FS)