baneris

< Nebula nešiojamojo kompiuterio ličio baterijos dvigubo paketo bandymo sistema >

Nebula nešiojamojo kompiuterio ličio baterijos dvigubo paketo testavimo sistema

Nebula nešiojamojo kompiuterio ličio baterijų dviejų paketų testavimo sistema NEP-02-V010 yra integruota testavimo įranga, pirmiausia naudojama nešiojamojo kompiuterio ličio baterijų paketų (1S–4S) pagrindinėms funkcinėms charakteristikoms ir funkcinės apsaugos bandymams.Šis įrenginys tinkamas operatyviai įvertinti ličio baterijų gaminius, kurių įtampa mažesnė nei 20 V, įskaitant nešiojamuosius kompiuterius, dronus ir elektrinius įrankius.Jis siūlo maksimalią 20 V įkrovimo įtampą, 20 A maksimalią įkrovimo srovę ir 30 A didžiausią iškrovimo srovę.

 

FUNKCIJOS

funkcijos

DUJŲ MATUOKLIS:Tai išsami testavimo sistema, sukurta integracijos testavimui, pasižyminti tikslumo įvertinimu ir apsauginėmis galimybėmis, pritaikyta įvairiems DUJŲ MATUOKLIŲ IC (BQ20Z45, BQ20Z75, BQ40Z55, BQ40Z50, BQ30Z55, BQ34Z10Z5, B15).
Patikimumas:Bekontaktis MOS jungiklis pasižymi dideliu patikimumu ir mažomis energijos sąnaudomis, todėl yra idealus pasirinkimas ieškantiems patikimo ir efektyvaus sprendimo.
Modulinis dizainas:Nepriklausomas kelių kanalų modulinis dizainas ir duomenų ataskaitų funkcija
Aukščiausias duomenų apdorojimas:Bandymo duomenis galima įkelti į serverį, taip palengvinant kontrolę, padidinant saugumą ir sumažinant praradimo riziką.

SPECIFIKACIJOS

Modelis

BAT-NEP-02-V010

Parametras

diapazonas

Tikslumas

Įtampos išėjimas

2000 mV ~ 6000 mV

0,01 %RD±0,05 %FS

6001 mV ~ 18000 mV

0,01 %RD±0,05 %FS

PACK įtampos matavimas

——

0,05 %±0,5 mV

Dabartinė išvestis

200-3500 mA

0,05%±1mA

3500-10000mA

0,1%±2mA

10000-20000mA

0,5%±5mA

Srovės matavimas

100-3500 mA

0,01 %RD±0,05 %FS

3500-20000mA

0,01 %RD±0,05 %FS

Kontaktinė informacija

Parašykite savo žinutę čia ir atsiųskite mums