baneris

< Nebula nešiojamojo kompiuterio ličio baterijų paketo PCM testavimo sistema >

Nebula nešiojamojo kompiuterio ličio baterijų paketo PCM testavimo sistema

Tai į PCM integruota testavimo sistema, tinkama įvertinti pagrindines ir apsaugines PCM charakteristikas nešiojamuose kompiuteriuose esančiose ličio jonų baterijose.Jis pirmiausia naudojamas parametrams atsisiųsti, kalibruoti ir testuoti „Texas Instruments“ dujų matuoklio IC (BQ20Z45, BQ20Z75, BQ28Z610, BQ3050, BQ3055, BQ3060, B4, B5, B5, B5, B5, B5, B5, B5, B5, B5, B5, B5, B5, B5, B5, B5, B5, BQ40Z0Q0Z, BQ40Z0Q05Q0 , BQ27742 ir BQ27741).

 

FUNKCIJOS

Suderinamas su plačiu diapazonu ir dideliu bandymo tikslumu pasižyminčiomis dujų matuoklio IC

Turi nepriklausomą kelių kanalų modulinį dizainą, kad būtų lengva prižiūrėti ir pakeisti, taip pat įvairias duomenų ataskaitų funkcijas.

Nepriklausomi kanalai lygiagrečiai atlieka testavimą tuo pačiu metu, greitai ir taupydami žmogiškuosius išteklius

SPECIFIKACIJOS

Modelis

BAT-NEZ-04-V006

Parametras

diapazonas

Tikslumas

Analoginės baterijos išėjimo įtampa

100 ~ 4800 mV

±1 mV

Analoginės baterijos išėjimo srovė

0 ~ 500 mA

±1 mA

Pastovios srovės šaltinio išėjimo įtampa

0 ~ 4000 mV

/

Pastovios srovės šaltinio išėjimo srovė

20A ~ 30A

±20mA

3A~20A

±10mA

20mA ~ 3000mA

±1 mA

Analoginės baterijos išėjimo įtampos matavimas

100 ~ 4800 mV

±1 mV

Analoginės baterijos išėjimo srovės matavimas

0 ~ 500 mA

±1 mA

Nuolatinės srovės šaltinio išėjimo įtampos matavimas

0-4000mV

/

Nuolatinės srovės šaltinio išėjimo srovės matavimas

20A ~ 30A

±10mA

3A~20A

5 mA

20mA ~ 3000mA

±1 mA

Kontaktinė informacija

Parašykite savo žinutę čia ir atsiųskite mums