Santrauka

Ši sistema idealiai tinka 1S-36S ličio jonų akumuliatorių paketo PCM bandymui atlikti su elektriniais įrankiais, sodo įrankiais, elektriniais dviračiais ir atsarginiais šaltiniais; taikoma pagrindinei ir apsaugai

PCM charakteristikų testai ir parametrų atsisiuntimas, palyginimas, PCB kalibravimas maitinimo valdymo IC (palaikantys I2C, HDQ, SMBUS ir kitus pritaikytus protokolus).

„Nebula“ maitinimo ličio jonų akumuliatorių bloko apsaugos plokštės bandymo sistema gali būti naudojama su „Nebula MES“ sistema („Manufacturing Execution System“), kad būtų galima kontroliuoti ir atsekti bandymo duomenis.

Taikomas diapazonas

(1) Taikykite gryną SEIKO sistemos apsaugos IC, pvz., 8244, S8204 ir pan.

(2) „Singlechip + SEIKO“ sistemos apsaugos IC.

(3) Ličio jonų akumuliatorių blokai iš elektrinių įrankių, sodo įrankių ir panašių elementų.

(4) Palaikykite įkrovimą ir iškrovimą per tą patį prievadą arba atskirus įkrovimo ir iškrovimo prievadus.

(5) 4S-36S ličio jonų akumuliatorių paketo PCM apsaugos sprendimai iš serijos aparatinės įrangos IC schemų iš TI, O2 ir MAXIN korporacijų ir kt.

(6) Remkite 36 eilučių imituotų baterijų atnaujinimą. Modeliuojamoms baterijoms modulis yra 4 stygos.

Testo elementai

PCM suvartojimas

PWM įvestis ir išvestis

PCM apsauga nuo temperatūros

PCM varža

PCM trumpasis jungimas

UVP / OVP / IO

PCM įkrovimas

PCM iškrovimas

IDR / THR

Specifikacijos